关于nRF52840 SAADC采样耗时异常的技术咨询

背景信息 #

• nRF52840的SAADC（ADC）最高采样率为200kHz，由最小3µs的TACQ（采集时间）与小于2µs的转换时间之和构成。
• 应用配置细节：
  • 采用10µs或5µs的TACQ，12位采样精度，有时启用4倍过采样
  • 通过EasyDMA将采样数据传输至RAM缓冲区
  • 采样序列：每组包含1个电压采样+1个电流采样，共执行8组，总计16个采样样本
  • 受输入特性限制，每次采样前必须重新配置SAADC

测试结果 #

• 电压采样总耗时19.5µs：其中包含10µs的TACQ和小于2µs的转换时间，存在7.5µs的未解释开销
• 电流采样总耗时33µs：其中包含5µs的TACQ和小于2µs的转换时间，扣除电压采样的7.5µs开销后，仍有18.5µs的未解释开销，推测该部分与过采样相关
• 假设7.5µs的开销由SAADC重配置及EasyDMA操作导致，但nRF52840的ARM内核运行频率为64MHz，理论上配置与中断代码开销不应超过2-3µs
• 切换8位或12位采样长度，未对总耗时或转换时间（<2µs）产生影响

疑问 #

在当前较复杂的配置下，上述采样耗时结果是否合理？是否存在我们遗漏的关键特性（尤其针对电流采样）？

内容的提问来源于stack exchange，提问作者Olof Forshell