使用指定多项式计算辐射传感器CRC16结果与预期不符求助

我目前正在调试一款旧辐射传感器的通信协议，遇到CRC16计算不符问题特来求助。该传感器为事件驱动架构，由主设备发起数据传输或数据请求启动通信。每帧报文采用双重校验：CRC16仅校验可变数据块，CRC8校验完整报文。

当前核心问题是CRC16计算结果始终无法匹配预期：根据数据手册说明，数据块校验所用CRC16多项式为CRC16 = X^14 + X^12 + X^5 + 1，是否对应十六进制值0x5021？我已抓取多组带正确CRC16的实测数据，尝试复现计算规则以便自行构造发送报文，但始终无法得到匹配校验值。我已使用通用CRC计算器测试该多项式下所有可能参数组合，也尝试使用CRC Reveng工具反向推导，均未得到正确结果。

已采集的正确CRC16样本如下：

Data    | CRC16 (MSB LSB)
14 00 00 0A | 1B 84
15 00 00 0C | 15 88
16 00 00 18 | 08 1D
00 00 00 00 | 00 00
00 00 00 01 | 19 D8
00 00 00 02 | 33 B0
01 00 00 00 | 5A DC
08 00 00 00 | c6 c2
10 00 00 00 | 85 95
80 00 00 00 | 0C EC
ff ff ff ff | f3 99

目前可通过传感器的否定应答获取任意输入数据对应的预期CRC16值，若有需要可提供更多测试样本。

补充参考信息：该传感器搭载8位8051微处理器，其CRC8校验规则已验证可通过通用CRC计算器复现，参数如下：多项式CRC8 = X^8 + X^6 + X^3 + 1对应0x49，输入和输出均按位反转，校验示例：

Input reflected   Result reflected
    control byte    |    Data   |CRC16 |  CRC8
01 0E 01 00 24 2A 06 ff ff ff ff f3 99 |-> 0F

问题排查解决思路 #

• 优先验证位反转参数：结合该设备CRC8采用输入输出全反转的设计逻辑，CRC16大概率也采用相同的位反转规则。你可先配置参数：初始值0x0000、输出异或值0x0000、输入数据按字节位反转、输出结果按16位整体反转，带入样本计算验证，0x00000000输出0x0000的特征也符合初始值为0的设定。
• 字节序适配排查：8051为小端架构，旧外设常见按反向字节顺序计算CRC的情况，你可以尝试将4字节数据从最后一个字节到第一个字节倒序排列后，再带入多项式计算，排查字节序带来的计算偏差。
• 校验范围确认：先单独构造1字节的测试数据，通过传感器否定应答获取对应CRC16值，缩小排查范围，排除多字节序、额外字段干扰，确认你当前计算CRC16的范围确实仅包含可变数据块，未混入控制位、报文头等额外字段。
• 反向推导多项式：如果上述参数均不匹配，可使用你已有的样本通过CRC Reveng工具反向推导正确多项式，运行时增加-b参数指定搜索反转多项式、-w 16指定CRC宽度，输入样本按实际字节顺序填写即可得到准确的参数组合。

内容的提问来源于stack exchange，提问作者borja garcia