如何确定富士通芯片Flash烧录场景下的16位CRC校验参数？

基础背景 #

• 待分析目标：固定长度512字节的烧录数据包，包尾附加16位CRC校验值，需明确该CRC的全部参数配置
• 测试条件：编程器执行富士通芯片Flash写入时会自动计算CRC值，可通过示波器读取最终CRC输出结果，具备遍历全量参数组合的测试能力
• 测试用例构造规则：
  • 基础包为512字节全0数据
  • 每次仅修改单个位置的字节，修改取值范围为十进制0~17
  • 覆盖的字节偏移位置为：包前4字节（偏移0、1、2、3）、包尾2字节（偏移510、511）

实测CRC结果 #

结果规则：行对应被修改字节的取值，列对应被修改字节在包内的位置偏移，值为输出的十六进制CRC结果：

00       01       02       03              510       511
00 00       00       00       00              00        00
01 0x8108   0x0100   0x3020   0xC6B0          0xF1F0    0x8108
02 0x8318   0x0200   0x6040   0x0C68          0x62E8    0x8318
03 0x0210   0x0300   0x5060   0xCAD8          0x9318    0x0210
04 0x8738   0x0400   0xC080   0x18D0          0xC5D0    0x8738
05 0x0630   0x0500   0xF0A0   0xDE60          0x3420    0x0630
06 0x0420   0x0600   0xA0C0   0x14B8          0xA738    0x0420
07 0x8528   0x0700   0x90E0   0xD208          0x56C8    0x8528
08 0x8F78   0x0800   0x0008   0x31A0          0x0AA8    0x8F78
09 0x0E70   0x0900   0x3028   0xF710          0xFB58    0x0E70
10 0x0C60   0x0A00   0x6048   0x3DC8          0x6840    0x0C60
11 0x8D68   0x0B00   0x5068   0xFB78          0x99B0    0x8D68
12 0x0840   0x0C00   0xC088   0x2970          0xCF78    0x0840
13 0x8948   0x0D00   0xF0A8   0xEFC0          0x3E88    0x8948
14 0x8B58   0x0E00   0xA0C8   0x2518          0xAD90    0x8B58
15 0x0A50   0x0F00   0x90E8   0xE3A8          0x5C60    0x0A50
16 0x9FF8   0x1000   0x0010   0x6340          0x1550    0x9FF8
17 0x1EF0   0x1100   0x3030   0xA5F0          0xE4A0    0x1EF0

已观测规律与待解决问题 #

• 已确认规律：首字节（偏移0）和末字节（偏移511）取相同值时，输出的CRC结果完全一致
• 已尝试匹配：测试了多种公开的CRC-16算法变体均未完全匹配，其中匹配度最高的配置为多项式0x1021、初始值为0的CRC-16算法
• 需求：获取可定位该CRC校验模式具体参数的可行方法

内容的提问来源于stack exchange，提问作者Gemini2001