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关于DO-178C中高低层需求定义及追溯性的技术问询

DO-178C需求层级与测试追溯的疑问

DO-178C或DO-178B明确要求软件需求分为两级:高层需求(high-level requirement)和低层需求(low-level requirement)。但除极小规模的软件外,多数嵌入式软件的实际层级结构为:整体嵌入式软件→组件→单元。

嵌入式软件层级结构

如果为每个层级单独制定需求,可分为三类:

  • 嵌入式软件级需求:通常表述为“嵌入式软件应xxxx”,属于典型的功能需求,明确软件要“做什么”
  • 组件级需求:通常表述为“组件A应xxxx”,属于设计需求,定义软件“怎么做”
  • 单元级需求:通常表述为“单元A.1应xxxx”,同样属于设计需求,定义软件“怎么做”

核心疑问

DO-178C定义的高层需求是否包含嵌入式软件级需求与组件级需求,相当于将这两级需求合并为同一层级?

若真的将这两级合并,会出现一个关键问题:部分被归为高层需求的组件级需求,其内部逻辑信息在软硬件集成测试中无法被观测到,直接导致这类需求不可测试。

采用三级软件需求时,需求与测试之间的追溯关系非常清晰易懂:
三级需求与测试的追溯关系

但如果严格遵循DO-178C的两级需求要求,是否意味着需求与测试的追溯关系如下所示?
两级需求与测试的追溯关系


内容的提问来源于stack exchange,提问作者Simon Zhu

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最近更新时间:2026.08.01 21:01:44