Metal CIKernel采样结果异常，出现条纹噪点求助

核心问题是你混淆了纹理坐标和像素坐标：

• CIKernel中sampler.coord()返回的是归一化纹理坐标，范围是[0, 1]（对应图像从左上角到右下角），不是以像素为单位的绝对坐标
• 直接对坐标加1.0会让x坐标超出有效采样范围，触发采样器的循环/截断行为，最终出现条纹噪点

修正方案 #

需要先获取纹理的像素尺寸，计算单个像素对应的纹理坐标增量，再用这个增量偏移坐标：

extern "C" float4 Simple(coreimage::sampler s) {
    // 获取纹理的像素宽高
    float2 textureSize = s.size();
    // 计算单个像素在x方向的纹理坐标增量
    float2 pixelStep = float2(1.0 / textureSize.x, 0.0);
    
    float2 current = s.coord();
    float2 anotherCoord = current + pixelStep;
    // 可选：限制坐标在有效范围内，避免边缘采样异常
    anotherCoord = clamp(anotherCoord, float2(0.0), float2(1.0));
    
    float4 sample = s.sample(anotherCoord);
    return sample;
}

补充说明 #

• s.size()返回当前采样纹理的实际像素尺寸（比如1920x1080的图像会返回(1920.0, 1080.0)）
• 若要采样上下相邻像素，只需修改pixelStep的y分量，比如float2(0.0, 1.0 / textureSize.y)
• 即使不限制坐标范围，采样器默认会循环采样超出范围的坐标，这也是你之前看到条纹的原因

内容的提问来源于stack exchange，提问作者jefflovejapan